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【 生活傳媒／台北採訪中心 綜合報導 2026.10.05 】 隨著科技檢測技術持續進步，X射線螢光分析儀（XRF）正逐漸成為古文物研究、鑑定與數位建檔的重要輔助工具。透過非破壞性檢測方式，XRF可在不取樣或僅需極少前處理的情況下，快速分析陶瓷、青銅器、金銀器、琺瑯及其他文物表面的元素組成，為材質辨識、製作技術研究及真偽判讀提供科學數據。 以古陶瓷為例，研究人員可檢測胎體、釉料與彩繪中的鐵、鈣、鉀、鈦、錳、鈷、銅、鉛、鋅、錫等元素，再與已知窯口、年代標本或科學資料庫進行比較。若檢測結果出現與宣稱年代不相符的現代材料或異常元素組合，便可形成重要的證偽線索。 在青銅器及金屬文物方面，XRF能分析銅、錫、鉛、鋅、銀、金等合金比例，協助了解鑄造材料與工藝特徵；對於修補、後配、重新鎏金或表面鍍層，也可能透過不同部位的元素差異發現異常。然而，文物表面的鏽蝕、土沁、釉層厚度、污染及現代修復材料，都可能影響讀值，因此檢測時應選擇多個測點、保留儀器參數與原始光譜，並建立可供複核的完整紀錄。 中華文物藝術品交易網表示，XRF的價值並非讓儀器直接回答「真或假」，而是把過去偏重經驗與目視的鑑定方式，進一步加入可量化、可比較及可追蹤的元素證據。實際判讀仍須結合器形、紋飾、胎釉、工藝、老化痕跡、來源紀錄，以及拉曼光譜、顯微觀察、熱釋光或其他適用的科學檢測，才能提高結論的可靠性。 未來若能將文物照片、尺寸重量、檢測位置、元素數據、原始光譜及流傳紀錄整合至數位溯源資料庫，不僅有助於鑑定教育與研究，也能讓每件藏品建立可持續補充、比對及查核的科學履歷，進一步提升古文物交易資訊的透明度與市場信任。
專業人員以手持式XRF分析儀檢測陶瓷器表面元素，並透過光譜資料進行比對。XRF屬於古文物鑑定的科學輔助工具，檢測結果仍須結合工藝特徵、來源資料及其他鑑定方法綜合判讀。 |
