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【 生活傳媒／台北採訪中心 綜合報導 2026.10.05 】 隨著科技鑑定技術日益成熟，X射線螢光分析儀（XRF）逐漸成為古陶瓷研究與真偽判讀的重要輔助工具。檢測人員可在不破壞器物的原則下，分析陶瓷胎體、釉料及彩繪中的元素組成，為窯口研究、製作工藝、修復辨識與數位溯源建檔提供科學數據。 古陶瓷的胎、釉與彩料，往往會因原料來源、燒製技術及歷史時期而呈現不同的元素特徵。XRF可檢測鐵、鈣、鉀、鈦、錳、鈷、銅、鉛、鋅、錫、鋇、鋯等元素，再將結果與已知年代、窯口及標準樣本資料進行比較。 例如，青花瓷中的鈷、鐵、錳比例，可作為研究青花料來源及製作特徵的參考；釉上彩、粉彩或琺瑯彩中的鉛、砷、錫、銻、鋅等元素，也可能反映不同時期的配方與工藝。若器物出現與宣稱年代明顯不符的現代色料、修復材料或異常元素組合，便可形成進一步證偽的重要線索。 不過，XRF並不能單憑一次掃描就直接判定陶瓷的真偽與年代。由於儀器主要分析器物表面，釉層厚度、土沁、污垢、風化、後期補彩及現代修復材料，都可能影響讀值。若只檢測單一位置，也可能把局部污染誤認為器物原始成分。 專業檢測應分別選取胎體、釉面、彩繪、底足、露胎及疑似修復部位進行多點測量，並完整保存測點照片、檢測時間、儀器型號、校正資料、操作模式、元素含量與原始光譜。透過相同條件下的多點比較，才能辨識器物各部位是否存在成分差異。 中華文物藝術品交易網表示，XRF的核心價值，在於將傳統眼學經驗轉化為可記錄、可比較及可複核的元素證據。檢測結果仍須結合器形、紋飾、胎釉特徵、製作工藝、燒成痕跡、自然老化、來源紀錄，以及拉曼光譜、顯微觀察或熱釋光等適用方法，進行交叉判讀。 未來若能持續建立不同年代、窯口及器型的古陶瓷元素資料庫，並整合器物影像、測點位置、光譜原始檔與流傳紀錄，將有助於提升古陶瓷檢測、鑑定培訓、學術研究及市場交易的透明度，也能為每件器物建立更完整的數位科學履歷。
專業檢測人員以手持式XRF分析儀，針對古陶瓷的釉面、彩繪及胎體進行多點元素檢測，並由電腦保存光譜數據，作為後續比對與綜合判讀的科學依據。 |
