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XRF科技輔助古天珠鑑定 元素分析為材質、蝕花與異常處理提供線索 ... ...

編輯部 2026-10-4 15:23 12人點閱 藝術

# 藝術
古天珠因獨特的眼紋、帶狀圖案、穿孔痕跡及宗教文化背景,長期受到收藏市場關注。然而,現代仿製、人工做舊、染色及化學處理等情況,也使古天珠鑑定充滿挑戰。隨著科學檢測技術發展,X射線螢光分析儀(XRF)開始成為 ...

【 生活傳媒/台北採訪中心 綜合報導 2026.10.05 】


古天珠因獨特的眼紋、帶狀圖案、穿孔痕跡及宗教文化背景,長期受到收藏市場關注。然而,現代仿製、人工做舊、染色及化學處理等情況,也使古天珠鑑定充滿挑戰。隨著科學檢測技術發展,X射線螢光分析儀(XRF)開始成為古天珠材質與表面處理研究的輔助工具。


天珠多以玉髓、瑪瑙等二氧化矽質材料製成,傳統紋飾可能涉及表面處理、加熱及蝕花工藝。XRF可在原則上不取樣、不損傷器物的情況下,檢測珠體表面與近表層的鐵、錳、鈣、鉀、鈦、銅、鉛等元素訊號,為不同色區及處理痕跡提供比較資料。


檢測時,可分別測量深色珠體、白色紋飾、眼紋、條帶、孔道及磨損位置。若深淺色區域呈現穩定且具有規律的元素差異,可能反映材料本身或製作工藝;若顏色只集中於裂隙、孔口或表面,並伴隨異常元素分布,則可能提示後期著色、填充或外來污染。


現代仿製天珠可能使用顏料、金屬鹽、酸鹼藥劑及加熱方式改變顏色,再以研磨、碰撞或化學處理模擬老化。XRF有機會檢出部分含較重元素的無機顏料與處理物,但對多數有機染料、蠟、樹脂及不含明顯重元素的化學處理,辨識能力有限。


玉髓及瑪瑙主要由矽和氧構成,部分手持式XRF對輕元素的偵測與定量能力有限。因此,XRF不能單獨確認天珠的年代、產地、文化來源與蝕花工藝,也不能因未檢出異常元素,就直接認定為古代真品。


古天珠的孔道是鑑定的重要部位。專業人員可比較孔口、孔壁、珠體表面與紋飾區的元素訊號,但XRF結果仍須搭配顯微觀察,研究鑽孔形態、旋磨痕跡、孔道磨損、表面風化與沉積物是否自然一致。


檢測過程應完整保存天珠尺寸、重量、正反面影像、測點位置、儀器型號、校正資料、操作模式、測量時間、元素含量及原始光譜。同一件天珠應進行多點測量,避免將局部污染或佩戴殘留誤認為原始材料特徵。


中華文物藝術品交易網表示,XRF的核心價值,是將天珠不同色區與孔道的表面元素轉化為可記錄、可比較及可複核的科學證據,但不能由儀器直接回答「新或老」、「真或假」。


最終鑑定仍須結合材質、紋飾、蝕花層次、孔道工藝、表面光澤、磨損、風化及來源紀錄,必要時配合拉曼光譜、傅立葉轉換紅外光譜、顯微觀察、紫外可見光譜或其他適用方法交叉驗證。


未來若能建立具有可靠考古背景或清楚流傳來源的天珠標準資料,並整合高清影像、孔道顯微圖、XRF測點、原始光譜及其他礦物檢測結果,將有助於鑑定培訓、學術研究與市場交易,減少只憑眼紋數量、顏色及外觀做舊判斷的風險。


專業人員使用XRF分析儀,分別檢測古天珠的深色珠體、白色眼紋、條帶與孔道部位,取得元素數據後,再配合顯微及光譜方法綜合判讀。



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