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【 生活傳媒／台北採訪中心 綜合報導 2026.10.05 】 明代成化年間的鬥彩瓷器，以胎質細膩、器形輕巧、青花線條柔和及釉上彩色清雅著稱，是中國陶瓷收藏市場高度關注的門類。面對後世仿製、補彩及接底改作等情況，X射線螢光分析儀（XRF）逐漸成為成化鬥彩研究與真偽判讀的重要輔助工具。 鬥彩的主要工藝，是先以鈷料在瓷胎上繪出紋飾輪廓，罩透明釉後高溫燒成，再於釉面填入紅、綠、黃等彩料，進行第二次低溫燒製。因此，一件鬥彩瓷器同時包含釉下青花與釉上彩兩套材料及燒成系統。 XRF可在原則上不取樣、不刮傷器物的情況下，分析青花線條、釉上彩、透明釉、底足露胎及疑似修補部位。青花區可觀察鈷、鐵、錳、鎳等元素；紅彩可能與鐵或銅相關，綠彩通常可見銅元素，黃彩則可能涉及鐵、銻、鉛等不同配方。 釉上彩通常具有含鉛的玻璃質基底，以降低熔融溫度並固定顏色。透過比較各彩區的鉛含量與致色元素，可協助研究不同彩料的配製方式，以及釉下青花與釉上彩之間的材料關係。 XRF的重要應用之一，是檢查同一器物的材料是否具有合理一致性。若青花輪廓、釉上填彩、底款、口沿或底部的元素組合差異明顯，可能反映後期補彩、重新描繪、接底、補配或修復，需要再以顯微觀察確認彩層與釉面的先後關係。 現代仿製者可能使用工業色料、現代鈷料或重新配置傳統元素，因此符合部分歷史元素特徵並不代表必然為真。相反地，若檢出與宣稱年代及傳統製作工藝明顯不符的材料，則可形成進一步證偽的重要線索。 由於青花料位於透明釉下，釉上彩層又相當薄，XRF讀值可能同時受到彩料、透明釉與胎體影響。器物曲面、測點大小、釉層厚度及後期污染也會造成差異，不能將單一測點或某個元素含量直接視為成化真品的判定標準。 專業檢測應分別選取青花輪廓、紅彩、綠彩、黃彩、無彩透明釉、底款、底足露胎及疑似修補位置進行多點測量，並保存測點照片、儀器型號、校正資料、操作模式、測量時間、元素含量及原始光譜。 中華文物藝術品交易網表示，XRF的核心價值，是把成化鬥彩的釉下鈷料、釉上彩料及胎釉特徵，轉化為可記錄、可比較及可複核的科學數據。可靠判讀必須建立在具有清楚年代與來源的標準器資料之上。 最終鑑定仍須結合器形、胎質、釉色、青花筆法、填彩方式、紋飾風格、款識、底足、燒製痕跡與流傳來源，必要時搭配拉曼光譜、顯微觀察、紫外線攝影、X光攝影或其他適用方法交叉驗證。 未來若能建立成化鬥彩及後世仿成化器的元素比對資料庫，並整合高清影像、各彩區測點、XRF原始光譜、顯微照片、修復紀錄及來源資料，將有助於鑑定培訓、學術研究與市場交易，降低只憑款識或外觀判斷所產生的風險。
專業人員使用XRF分析儀，分別檢測成化風格鬥彩瓷器的釉下青花輪廓，以及紅、綠、黃等釉上彩區域，藉由鈷、鐵、錳、銅、鉛等元素訊號，輔助研究製作工藝與後期補彩情況。 相關新聞 XRF古文物到府檢測服務 請洽0983351316 XRF古文物定點檢測報告 請洽0983351316 |
